机译:晶体硅晶片上的超薄氧化硅层:具有低缺陷密度的化学突变SiO2 / Si界面方面先进氧化技术的比较
机译:使用光学技术研究十六氟化氟酞菁钴薄层中的氨吸附
机译:用光热技术研究液体薄层的蒸发
机译:航空多层圈关节EC NDE埋藏缺陷源分离技术的比较研究
机译:研究本征薄膜器件异质结的电子特性和纳米晶锗锗器件的缺陷密度分布。
机译:神经节细胞层变薄和视网膜神经纤维层局部性视野缺损的地形相关性和不对称性分析
机译:振动REED技术对薄层的缺陷研究
机译:Vuv同步辐射光作为研究薄覆盖层界面质量和性能的技术